VAIO® Z / VAIO® Pro Zの品質試験
全機種共通品質試験に加え、専用の品質試験を実施しています。
危険なシーンや、蓄積されるダメージを具体的に想定した追加試験によって、
ハードなビジネスモバイル活用に耐える堅牢性を実現しました。
全機種共通品質試験に加え、専用の品質試験を実施しています。
危険なシーンや、蓄積されるダメージを具体的に想定した追加試験によって、
ハードなビジネスモバイル活用に耐える堅牢性を実現しました。
過去モデル
VAIO独自の、さまざまな利用シーンを想定した数十項目におよぶ品質試験を実施。さらにアメリカ国防総省制定MIL規格（MIL-STD-810H）*に準拠した品質試験もクリアし、そのタフさを証明しています。
* MIL規格(MIL-STD-810H)に基づいて、一部当社が設定した試験条件に従い試験し、基本機能に動作欠損無き事を確認しています。信頼性データの収集のため実施しているものであり、落下、衝撃、振動または使用環境の変化などによる無破損、無故障を保証するものではありません。
持ち運び中や机の上からの落下などを想定した試験です。硬い鉄板に26方向から落下させ、ユーザーデータを守り抜く堅牢性を確認しています。
高温高湿な環境下でも、正常に動作し続けることを確認しています。
コンテナなどの高温高湿な環境に留め置かれた場合でも、PCが壊れないことを確認しています。
急激な温度変化が繰り返される過酷な環境でも、PCが壊れないことを確認しています。
山の上や高所、航空貨物内など、気圧が低い場所へも、PCを持ち運び、仕事ができることを確認しています。
車両での持ち運びなどを想定。前後左右上下すべての方向への振動を加えても、壊れないことを確認しています。
モバイルノート向け特別品質試験では、持ち運びを想定した試験を実施。VAIO Zでは127cmからの高高度落下試験など、これまで以上の厳しさで「VAIO Z」を名乗るのに相応しい堅牢性を証明しています。
突然のアクシデントに対する堅牢性も、過酷な条件で検証。立った状態やスタンディングテーブルでの不意の落下を想定し、天面と底面の2面で、約127cmからの落下試験を実施。鉄板への落下という本体への衝撃が高い環境において、試験実施ごとに変形や破損状況を徹底的に確認。設計改善に取り組むことで、圧倒的な堅牢性を実現しました。
強制的に力を加え、正常な可動範囲を超えるアクシデントを想定した試験を実施。液晶ディスプレイの破損耐性やひねり耐性について充分な強度を確保できていることを確認しています。
ペン挟み試験では、鞄の中で意図せずペンなどを挟みこんでしまった状態で圧力がかかるシーンを想定。具体的には、プラスチックの円筒（直径10mm）を挟み、ディスプレイを閉じます。これを左右両方で、1回ずつ実施。何が起きるかを詳細に確認し、内部の基盤・デバイスや、液晶パネル、筐体の破損を防ぐ対策を施します。
水分は電子機器の大敵。それはPCも例外ではありません。VAIO Zは本体傾斜角やキーボード構造の工夫などで、内部に水が入り込みにくい構造を実現しました。キーボード水かけ試験では、その実効性を検証するため、電源を入れた状態で150ccの水を注ぎ込み、データを保存するまでの間、正常動作することを確認しています。
VAIOは、誰もが一度はやってしまったことのあるPC落下への対策にも真正面から取り組んでいます。小脇に抱えていて落としてしまったり、デスクから落下させてしまったり、日常の利用シーンで起こりうるうっかりを想定し、約90cmの高さ（身長170cmの人の平均的な腰の位置）からの落下試験を実施。クッション性皆無の堅い鉄板の上に、天地・前後左右の全6方向から落下させ、変形、破損状況を、内部点検も含めて念入りに行い、それを設計にフィードバックさせることで、ユーザーデータを守り抜く堅牢性を実現しました。
加圧振動試験の目的は、大きな圧力と振動がかかった状態でも壊れないタフさを実現すること。例えば、通勤ラッシュ時には、鞄に入れたPCが天板方向、底面方向の双方から強く押されるため、液晶ディスプレイやキーボードなどにサンドイッチ状の圧力がかかります。加圧振動試験では、万力と同じ原理の装置で、VAIOに150kgf*もの大きな圧力を加えます。そして、それをそのまま振動試験機に固定し、圧力と振動を与え続けた状態でもVAIOが正常に動作するかを確認します。
*kgf=1キログラム (kg) の質量が標準重力加速度のもとで受ける重力の大きさのこと。重量キログラム。
普段、片手でPCを机の上に置いたとき、机にぶつかる角の部分には、想像以上の衝撃が走っています。そこでこの角衝撃試験では、VAIO独自の試験機により、4つの角全てで、5cmの高さからの落下を5000回繰り返し、蓄積されるダメージを測定。ユーザーが日々、知らず知らずのうちに与えてしまっているダメージをものともしないタフネスを追求しています。
通勤ラッシュ時の急停車などで、本体がしなるほどの圧力がかけられると、デリケートな液晶ディスプレイ部はもちろん、内部の基板やデバイスにも無視できないストレスがかかり、破損や故障といった深刻な結果を招くことになります。本体ひねり試験では、VAIO本体の3つのコーナーをしっかり固定した上で、4つ目のコーナーに大きな力をかけてじわじわと押下。こうした過酷な試験を実施することで、満員電車の中で押されたときにも耐えられる強さを追求します。
液晶パネルは、ノートPCの中でも最も破損しやすいパーツの1つ。そこでVAIOでは、液晶パネルをぐるりと覆う、液晶ハウジング部分の強度を徹底的に検証・改善。加圧試験機を使って、この部分に直接圧力をかけるというテストを行っています。液晶ハウジングのさまざまな部分でこの試験を実施することで、ディスプレイの端を強い力でつまんだり、閉じた状態でひじを置いたり、鞄の中に押し込まれたりといった、さまざまなケースに再現。デリケートな液晶パネルを守り抜くために、どういった構造にすれば良いのかを導き出しました。