VAIO Phone Biz / VAIO Phone Aの品質試験
スマートフォンであるVAIO Phone Biz、VAIO Phone Aの場合、
持ち歩く際に起こりうるリスクを想定した品質試験が行われます。
携帯することにより、人に触れる機会が多くなるスマートフォンだからこそ、
重要になる安全性と堅牢性。
厳しい基準をクリアした結果が、VAIO Phone Biz、VAIO Phone Aに集約されています。
スマートフォンであるVAIO Phone Biz、VAIO Phone Aの場合、
持ち歩く際に起こりうるリスクを想定した品質試験が行われます。
携帯することにより、人に触れる機会が多くなるスマートフォンだからこそ、
重要になる安全性と堅牢性。
厳しい基準をクリアした結果が、VAIO Phone Biz、VAIO Phone Aに集約されています。
過去モデル
角衝撃試験の目的は、日々繰り返されるストレスから筐体を守る耐久性を実現することです。片手でスマホを置いたとき、机にぶつかる角には想像以上の衝撃が加わっています。そこで角衝撃試験では、独自の試験機により、5㎝の高さからの落下を5000回実施。4つの角すべてで行います。1回1回は小さな力ですが、何度も連続して蓄積される衝撃は大きく、その大きな衝撃にも負けない耐久性の高さを追求しています。
落下試験の目的は、落下の衝撃から本体の内部を可能な限り守ることです。様々な場面での鞄や手元からの落下など、日常の使用シーンで起こり得る落下時の衝撃を想定しています。180cmの高さからVAIOを、筐体の天地、両側面、前後6面それぞれから落下させ、その後、内部点検も含めて念入りに調べ、持ち歩きなどのさまざまなシーンで落下してしまった場合でも、ユーザーデータを守る堅牢性を追求しています。
コンクリートブロック角への液晶面落下試験の目的は、落下時の大きな衝撃で液晶ガラスが割れ、飛散したガラスによるけがなどを防止することです。たとえば階段で落下させてしまうなど、平面だけでなく、角や突起への落下など、日常の使用シーンで起こり得る大きな衝撃を想定しています。120cmの高さから落下させ、コンクリートブロック角に液晶面が当たっても、ガラスが飛散しないことを繰り返し確認し、安全性の高さを追求しています。
鉄球落下試験の目的は、机等におかれたスマートフォンに固形物が落下するなどの大きな衝撃で液晶ガラスが割れ、飛散したガラスによるけがなどを防止することです。90cmの高さから500gの鉄の球体を落下させ、液晶面に当たっても、ガラスが飛散しないことを繰り返し確認し、安全性の高さを追求しています。
※ 品質試験は、弊社の規格に基づいて特定の環境のもとで行われています。本製品の品質試験は、無破損・無事故を保証するものではなく、スマートフォンのデータを保証するものではありません。